Stránka 1 z 1

Mereni na LC mustku

Napsal: 01 led 2010, 13:57
od forbidden
Všechno nejlepší do novýho roku.
Hned tu mám jeden dotaz, na LC můstku lze při měření volit ekvivalentní schéma zapojení C a L. Zajímalo by mě, za jakých okolností je vhodné zvolit jaké z nich.
Při měření keramik a svitků je to celkem jedno, ale u elytů to už dává dost rozdílné výsledky. Při zvolení paralelního ekv. sch. to na vyšších kmitočtech měří hovadiny, musím zvolit sériové ekv. sch. Co tuhle chybu měření způsobuje? Ztráty v dielektriku, to ESR?
Stejně je to při měření cívek. Při paralelní ekv. sch. to na nízkých kmitočtech měří hovadiny. Musím zvolit sériové. A to i u cívek co mají DC odpor třeba jen 20 mR.
Díky za pomoc.

Napsal: 01 led 2010, 14:40
od Andrea
Jestli to není tím, že impedance kondenzátoru je na vysokých frekvencích velmi malá (blíží se nule) a tudíž relativně velký odpor paralelně k ní, se prakticky neuplatňuje (a nedá změřit) a uplatní se hlavně odpor, který je v sérii. Podobně u indukčnosti, ta má malou impedanci na nízkých frekvencích a tudíž na nich převáží odpor v sérii nad tím, co je paralelně.

Napsal: 01 led 2010, 14:50
od forbidden
Díky moc za vysvětlení, přesně takto jsem si odpověď představoval, pár vět a pochopím to i bez kalkulačky.