Mereni na LC mustku

Základní principy, funkce, rovnice, zapojení - t.j. vše, co byste měli vědět, než se pustíte do praktické realizace elektronického zařízení

Moderátor: Moderátoři

Odpovědět
Zpráva
Autor
Uživatelský avatar
forbidden
Příspěvky: 8808
Registrován: 14 úno 2005, 01:00
Bydliště: Brno (JN89GF)
Kontaktovat uživatele:

Mereni na LC mustku

#1 Příspěvek od forbidden »

Všechno nejlepší do novýho roku.
Hned tu mám jeden dotaz, na LC můstku lze při měření volit ekvivalentní schéma zapojení C a L. Zajímalo by mě, za jakých okolností je vhodné zvolit jaké z nich.
Při měření keramik a svitků je to celkem jedno, ale u elytů to už dává dost rozdílné výsledky. Při zvolení paralelního ekv. sch. to na vyšších kmitočtech měří hovadiny, musím zvolit sériové ekv. sch. Co tuhle chybu měření způsobuje? Ztráty v dielektriku, to ESR?
Stejně je to při měření cívek. Při paralelní ekv. sch. to na nízkých kmitočtech měří hovadiny. Musím zvolit sériové. A to i u cívek co mají DC odpor třeba jen 20 mR.
Díky za pomoc.

Andrea
Příspěvky: 9340
Registrován: 07 zář 2007, 02:00

#2 Příspěvek od Andrea »

Jestli to není tím, že impedance kondenzátoru je na vysokých frekvencích velmi malá (blíží se nule) a tudíž relativně velký odpor paralelně k ní, se prakticky neuplatňuje (a nedá změřit) a uplatní se hlavně odpor, který je v sérii. Podobně u indukčnosti, ta má malou impedanci na nízkých frekvencích a tudíž na nich převáží odpor v sérii nad tím, co je paralelně.

Uživatelský avatar
forbidden
Příspěvky: 8808
Registrován: 14 úno 2005, 01:00
Bydliště: Brno (JN89GF)
Kontaktovat uživatele:

#3 Příspěvek od forbidden »

Díky moc za vysvětlení, přesně takto jsem si odpověď představoval, pár vět a pochopím to i bez kalkulačky.

Odpovědět

Zpět na „Teorie“